學者列表
學校:國立中興大學
科系:機械系
成果來源:國科會
申請專利國家:中華民國(發明)
專利證號:I580512
技術摘要:
一種滑動面之表面加工紋理,包含複數油袋,及複數油溝,該等油袋呈凹槽狀,且彼此之間相間隔分佈於該滑動面上,該等油溝凹設於該滑動面上,且分別連通兩相鄰油袋,藉由該等油袋及該等油溝的組合配置,能降低滑動面的...
學校:國立中興大學
科系:機械系
成果來源:中興大學
申請專利國家:中華民國(發明)
專利證號:I511318
技術摘要:
本發明關於一種太陽能電池之矽基板之製造方法,包括有:準備一表面具有一凹凸微結構之矽基材;將該矽基材浸於一第一酸性蝕刻液中,該第一酸性蝕刻液包含有一第一濃度之金屬離子以及一酸性溶液;將該矽基材浸於一第二...
學校:國立中興大學
科系:機械系
成果來源:國科會
申請專利國家:中華民國(發明)
專利證號:I539634
技術摘要:
一種圓盤式壓電變壓器,包含有一具有呈圓形之一上表面及一下表面的基板、分別設置於該上表面與該下表面的一上壓電層與一下壓電層,以及一電阻,上、下壓電層分別具有呈圓形之一頂面及一底面,上壓電層的頂面設有一呈...
學校:國立中興大學
科系:機械系
成果來源:國科會、經濟部
申請專利國家:中華民國(發明)
專利證號:I496651
技術摘要:
一種檢測裝置與使用其之檢測方法。檢測裝置用以檢測多軸工具機的誤差其具有轉軸與主軸。檢測裝置包括殼體、光源、光學鏡組、兩位置感測器與球透鏡。殼體設置於主軸上。球透鏡設置於轉軸上且有反射層,且在球透鏡光源...
學校:國立中興大學
科系:機械系
成果來源:中興大學
申請專利國家:中華民國(發明)
專利證號:I419761
技術摘要:
本發明係關於一種加工機刀具狀態偵測方法及其裝置,準備一具麥克風陣列組、訊號處理組及監控組的偵測裝置,將該麥克風陣列組裝設於一加工機平台上以偵測刀具的加工訊號,該訊號處理組係與該麥克風陣列組相電性連接且...
學校:國立中興大學
科系:機械系
成果來源:經濟部
申請專利國家:中華民國(發明)
專利證號:I422460
技術摘要:
本發明係關於一種工具機切削加工刀具之狀態偵測方法,準備一具有一感應組、一訊號處理組及一監控組的偵測裝置,將該感應組設置於一工具機主軸的夾具上,啟動該工具機進行切削加工,透過該感應器的偵測後經由該資訊擷...
學校:國立中興大學
科系:機械系
成果來源:國科會
申請專利國家:中華民國(發明)
專利證號:I382147
技術摘要:
本發明係關於一種運用光學讀取裝置量測微流道寬度與偵測流道流體之方法,其主要係包含下列步驟:以一定的轉速轉動一受測之微流道碟片;啟動一雷射光發射裝置以發射雷射光訊號;將雷射光訊號經一導引裝置導引至轉動的...
學校:國立中興大學
科系:機械系
成果來源:國科會
申請專利國家:中華民國(發明)
專利證號:I384633
技術摘要:
一種低照度發電太陽能裝置,其係包含一太陽能板與一微透鏡層,太陽能板係包含有複數個太陽能電池,微透鏡層係設於太陽能板之受光面上,其係包含有複數個可聚光的微透鏡而形成一微透鏡陣列,藉由此微透鏡層可提高照射...
學校:國立中興大學
科系:機械系
成果來源:國科會
申請專利國家:中華民國(發明)
專利證號:I585403
技術摘要:
本發明所揭一種無酵素葡萄糖檢測晶片,其包含有:一基板,一檢測部,設於該基板之一端面,複數凸部,設於該檢測部,一導電層,設於該基板具有該等凸部之一面,複數金奈米顆粒,散設於各該凸部表面。本發明所揭無酵...
學校:國立中興大學
科系:機械系
成果來源:中興大學
申請專利國家:中華民國(發明)
專利證號:I560269
技術摘要:
本發明係提供一種細胞胞器篩選裝置及以其採集細胞胞器之方法,其中,該細胞胞器篩選裝置係透過設計流道組之尺寸,藉由壓力推擠細胞通過流道組,並且,流道壁給予細胞一反向阻力,使細胞被擠壓變形而破裂,將其內胞器...
學校:國立中興大學
科系:機械系
成果來源:中興大學
申請專利國家:中華民國(發明)
專利證號:I560447
技術摘要:
本發明所揭一種生醫檢測晶片,其包含有一基材,具有一板形本體,複數個凸部,彼此相互交錯地設於該本體之一面,至少一限位空間,被彼此相鄰之三凸部所圍繞;一導電層,具有各該凸部之一面;數個奈米粒子,散設於具有...
學校:國立中興大學
科系:機械系
成果來源:衛生署
申請專利國家:中華民國(發明)
專利證號:I493041
技術摘要:
本發明揭露一種檢測 MD2 基因啟動子突變之探針、晶片與方法,主要是利用奈米半球型的微陣列結構作為感測基板,以針對 MD2 基因啟動子區域上的特定突變位點設計檢測探針,利用電阻值的差異來區分具有突變與...
學校:國立中興大學
科系:機械系
成果來源:國科會
申請專利國家:中華民國(新型)
專利證號:M611188
技術摘要:
一種利用光學方法的長度量測裝置,係包括一光源模組,用以照亮待測表面;一光學取像模組,用以將受照亮之待測表面圖案聚焦在特定成像面;一感測模組,用以偵測光學取像模組所聚焦之影像移動而得到位移訊號;一控制模...
學校:國立中興大學
科系:機械系
技術名稱:光學旋轉編碼器
成果來源:國科會
申請專利國家:中華民國(發明)
專利證號:I710795
技術摘要:
光學旋轉編碼器(optical rotary encoder,ORE)是馬達控制不可或缺的重要組件,可分成增量型與絕對型兩種,而絕對型光學旋轉編碼器更是精密定位所必須。因為傳統上以非同調的發光二極體(...
學校:國立中興大學
科系:機械系
成果來源:國科會
申請專利國家:中華民國(發明)
專利證號:I719261
技術摘要:
本發明揭露一創新之積層製造裝置系統架構,以立體光刻技術為基礎,利用習知的光學讀寫頭之光學聚焦模組,搭配二維平面掃描之方式,對液體聚合物進行光固化,並以逐層拉移之方式,實現立體結構之物件製作。由於光學讀...